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布魯克Bruker AFM探針 SCANASYST-air 原子力(lì)顯微鏡(jìng)探(tàn)針(矽針尖/氮化矽懸臂)

本產品為布(bù)魯克(Bruker)原廠AFM探針 SCANASYST-air,適用於原(yuán)子力(lì)顯微鏡(AFM)掃描成像應用,特別針(zhēn)對ScanAsyst模式優化設計。

1.jpg

該探針采用矽針尖(Silicon Tip)+ 氮(dàn)化矽懸臂(Nitride Lever)結構,具備優異的成像穩定性和力(lì)學響應性能,適用於(yú)多種納米級表麵形貌測試。

產品為全新原裝未拆封,帶防靜電包裝,確保運輸與(yǔ)儲存安全。


產品特點

  • 原廠型號:SCANASYST-air

  • 高(gāo)靈敏度力學(xué)響應

  • 優化ScanAsyst成像模式

  • 高穩定性掃描(miáo)性(xìng)能

  • 後側(cè)反射鋁塗層(增強激光檢測)

  • 前側無塗層,降低幹擾


2.jpg技術參數

參(cān)數數值
型號SCANASYST-air
材(cái)質Silicon Tip on Nitride Lever
厚度(T)650 nm
長度(L)115 μm
寬度(W)25 μm
共振頻率(f)70 kHz
力常數(k)0.4 N/m
前側塗層
後側塗層反射鋁

功能說明

  • AFM表麵形(xíng)貌掃描

  • 納米級結構測量

  • 低力成像

  • 自動力控製掃描(ScanAsyst模式)


應用領域

  • 材料科學

  • 半導體檢測

  • 納米技術研(yán)究

  • 生物樣品分析


3.jpg產品優勢

  • 原廠品(pǐn)質,參數穩定

  • 高重複性

  • 成像清(qīng)晰

  • 使用(yòng)壽命長


包裝說明

  • 原廠防靜電包裝(ESD Shielding Bag)

  • 全新未拆封


注意事項

  • 使用時避(bì)免碰撞針尖

  • 防止靜電損(sǔn)傷(shāng)

  • 建議專業環境(jìng)操作


 
 
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