工控產（chǎn）品

本產（chǎn）品為Bruker原子力顯微（wēi）鏡（AFM）導電原子力模塊（CAFM Module），適用於Dimension Icon係列及MultiMode係列原子（zǐ）力顯微鏡係（xì）統。

CAFM模塊（kuài）（Conductive Atomic Force Microscopy）用於實現納米尺度下的導電性能測量，可同步獲取樣品的表麵形貌及局部電學特性，是材料科（kē）學、半導體研究及納米技術領域的（de）重（chóng）要分析工具（jù）。

該（gāi）模塊為精密科研設備組件，適用於設備（bèi）升級、功能擴展及維（wéi）修替換（huàn）。

產品特點

• 原裝CAFM導電模塊

• 支持納米級（jí）電流測量

• 高靈敏度電學信號采集

• 與Bruker AFM係統高度兼容

• 結構精密（mì），穩定性高

適用設備

• Bruker Dimension Icon AFM

• Bruker MultiMode AFM
  （具體兼容性可提供型號確認）

功能說明

• 導電原子力（lì）顯微測量（C-AFM）

• 表麵形貌 + 電流同步測量

• 局部電導率分析

• 納米尺度電學成像（xiàng）

技術（shù）參數（參（cān）考）

應（yīng）用領（lǐng）域

• 半導（dǎo）體材料研究

• 納米材料分析

• 薄膜導電性能測試

• 電子器件研發（fā）

• 科研實驗室

注意事項

• 屬於高精密科研設備組（zǔ）件

• 建議由專業人員安裝調試

• 購（gòu）買前請確認設備型號