工控產品

日本ULVAC（愛發科）CRTM-6000型膜厚（hòu）儀（薄膜沉積監控器），用於真空鍍膜及濺射工藝中的（de）膜厚（hòu）實時監測與控製，是薄膜製程中的（de）關鍵控製設備。

該設備通過石英晶體（tǐ）振蕩原理（QCM），實時測量沉積速率及膜厚變化，實現高精度鍍膜控製，廣（guǎng）泛應（yīng）用於半導體、光學鍍（dù）膜、真（zhēn）空蒸鍍及濺射（shè）工藝中。

本設備為日（rì）本原裝拆機件，功能完好，屏幕顯示清晰，按鍵靈敏，整（zhěng）體成色如圖，適合設備（bèi）維修、更換或實驗使用。

產品特點

• 品牌：ULVAC（愛發科）

• 型號：CRTM-6000

• 類型：膜厚（hòu）儀 / 膜厚監控器

• 測量原理：石英晶體微天平（píng）（QCM）

• 實時顯示膜厚及沉積速率

• 高穩定性（xìng）與高精度測量（liàng）

• 操作界麵簡潔，支持參數設置

技術參數（參考）

產（chǎn）品信息

• 型號（hào）：CRTM-6000

• 序列號：00444

• 產地：日本（běn）

應用領域

• 真空鍍膜（mó）設備

• 半導體製造

• 光學鍍膜（mó）

• PVD / 蒸發鍍（dù）膜

• 磁控濺射

注意事項

• 拆（chāi）機件，非全新

• 未校準測試

• 建議專業人員安裝調試