工控產品

Bruker Dimension Edge 原子力顯微鏡（AFM）是一款高性能納米級表征設備，適用於材料科學、半導體、生物工程和精密製造領域（yù）。設備外觀良好，運行正常（cháng），可搭（dā）配 Contour GT-K 光學輪廓係統使用，滿足納米級表麵形貌表征需（xū）求。

產品介紹（Product Description）

Bruker Dimension Edge 原子力顯微鏡（AFM）是一款高性能的納米級表征係統，被廣（guǎng）泛應用於半導（dǎo）體製（zhì）造（zào）、材料科學、生物工程、微機電係統（MEMS）以及精密加工領域。
該儀器具備卓越的（de）掃描穩定性（xìng）、極高的分辨率以及專業的結構設計，是 Bruker 品牌中性能優異的科研級 AFM 平台之一。

本產品為實物拍攝，設備外觀整潔，運行狀態良好。同時搭（dā）配 Contour GT-K 光學輪廓係統（型號：GTK1-11-1004），滿足用戶對三維光學輪廓測量、粗糙度分析及微結構表（biǎo）征的需求。

1. 產品特點（Key Features）

• ✓ 高精（jīng）度原子力顯微鏡，可進行納米級成像與表麵分析（xī）

• ✓ 掃描穩定性（xìng）強，重複性高，適（shì）用（yòng）於精密科研

• ✓ 支持接觸模式、輕敲（qiāo）模式、非（fēi）接觸模式等多種（zhǒng）掃描方式

• ✓ 圖中搭配 Contour GT-K 光學輪廓係統（tǒng），可擴（kuò）展光學 3D 表麵測量功能

• ✓ 設備結構完好，外觀維護良好

• ✓ 適用於材料、半導體、生物醫學及光學工程（chéng）等多個領域

2. 技術（shù）規（guī）格（Technical Specifications）

• 製造商： Bruker Corporation

• 儀器型號： Dimension Edge AFM

• 光學輪廓係統： Contour GT-K（型號 GTK1-11-1004）

• 電源參（cān）數（來自銘牌）：
  +5V / 10A
  +12V / 5A
  –12V / 1A
  +24V / 2A
  最大功率：110W

• 製造地信息： Tucson, Arizona, USA

• 認證： TÜV、CE、EN 61010-1

3. 適用領域（Supported Applications）

• 半導體晶圓表麵（miàn）缺陷與結（jié）構（gòu）分析

• 納（nà）米薄膜、納米材料、微結構測量

• 聚合物、生物材料、塗層表麵表征

• MEMS 微機電係統測試

• 納米製造工（gōng）藝驗證（zhèng）

• 光學器件的表（biǎo）麵粗糙度及三維形貌分析

• 高校科研、國家重點實驗室、企業研發中心

4. 包含內容（Included Items）

• ✓ Bruker Dimension Edge 原子力顯微鏡

• ✓ Contour GT-K 光（guāng）學輪廓係統控製器（GTK1-11-1004）

• ✓ 連接線纜、電源模塊（以照片所示為準）

• ✓ 完整功能的掃描頭與（yǔ）控（kòng）製係統

5. 狀態說明（Condition Description）

本設備經專（zhuān）業人員檢查，整體狀態良好：

• 儀器可正常通電與啟動

• 各按鍵（jiàn）、接口、結構件均完好

• 控（kòng）製模塊響應正常

• 實驗室（shì）環境存放，無嚴（yán）重磨損

• 設備適合繼續用於科研、教學或翻新項目

6. 測試與檢查說明（Test & Inspection Notes）

• 儀器（qì）通過開機自檢

• 光學輪廓控製模（mó）塊可正常通訊

• 機械結構完好，無異（yì）常（cháng）噪音

• 用戶可根據自身實驗需求（qiú）進行進一步校準

• 實拍（pāi）圖片真實反映（yìng）儀器狀態

7. 選（xuǎn）擇本設備的理由（Why Choose This Instrument）

• Bruker 是全球領先的納米測量與表（biǎo）征設備品牌

• Dimension Edge 屬於高（gāo）端 AFM 係列，性能（néng）卓越

• 適合科研院所、材料實驗室和工業研發中心

• 比購買新（xīn）設備節省大量成本

• 可（kě）用於設備擴展、產線升級或研究項目提（tí）升能力

描述結束（End of Description）