工控（kòng）產品

JEOL JSM-6510 掃描（miáo）電（diàn）子顯微鏡，成色良好，功能完整，配（pèi）備真空泵、控製電腦和軟件，適用於材料學、電子、生命科學等表麵微結構分析。

EOL JSM-6510 是一款性（xìng）能穩定、應用（yòng）廣泛的掃描電子顯微鏡（SEM），適用（yòng）於微米及納米級表（biǎo）麵結構的（de）高分辨率成像。本設備為二手原裝拆機，經過專業檢測，功能完好，外觀保存（cún）良好。

主要特點：

• 型號：JEOL JSM-6510

• 放大倍率：10× 至（zhì） 300,000×

• 分辨率：約 3.0 nm（高真空模式）

• 加速電（diàn）壓：0.3 – 30 kV

• 探測器：標準 SEI 二次電子探測（cè）器，可選 BSE 背散射電子探測（cè）器

• 真空係統（tǒng）：配套 ULVAC 油封（fēng）旋片真空泵

• 控製（zhì）係統：含專用控製電腦、顯示器與操（cāo）作軟件

• 應用領域：材料學研究、半導體檢測、金屬表麵分析、生物樣品觀察

設備（bèi）狀（zhuàng）態：

• 成色：二手，外觀良好

• 功能：經檢測運行正常

• 附件：真空泵、控製電腦、顯示器、操作台

• 軟件：已安裝 JEOL SEM 控製軟件

適用範圍：
本設備可廣泛應用於科研院所（suǒ）、大學（xué）實驗室、電子工（gōng）廠檢測部門，以（yǐ）及各類（lèi）材料與生命科學研究。